您好！欢迎访问深圳市伟峰仪器仪表有限公司网站！
返回首页 | 在线留言 | 联系我们
全国服务咨询热线:

15989501235

热门关键词：测厚仪，硬度计，粒子计数器，风速仪，测振仪，粗糙度仪，测温仪，转速表
当前位置：首页 > 技术文章 > ST-20掌上型方块电阻测试仪

ST-20掌上型方块电阻测试仪

更新时间：2020-05-21      点击次数：1018
ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
 
◆ 特点：

1

 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定

2

 低功耗

3

 采用单个电池供电，带电池欠压指示

4

 仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm

5

 特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

6

 探头带抗静电模块
 
◆ 技术指标：
 

测量范围

基本量程：方块电阻10.0-199.9(Ω/口)
扩展量程：方块电阻100-1999(Ω/口)

测量不确定度

≤5%

探针规格

 探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ

恒流源

 测量过程误差：≤±0.8%

电源

 9V叠层电池1节
深圳市伟峰仪器仪表有限公司
地址：深圳市宝安区沙井街道步涌社区新和大道129号-177号(单号)E1306
邮箱：weifeng1718@163.com
传真：86-0755-61605261
快速链接
关注我们
欢迎您添加我们的微信好友了解更多信息：
欢迎扫码加微信
了解更多信息
版权所有 © 2025 深圳市伟峰仪器仪表有限公司(www.wf17.net) All Rights Reserved      备案号：粤ICP备14041131号      管理登陆      技术支持：化工仪器网      sitemap.xml