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日本凯特kett 990型膜厚计可无损的测量磁性金属基体

更新时间:2021-03-23      点击次数:1274

日本凯特kett 990型膜厚计

本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

日本凯特kett 990型膜厚计技术参数

规格型号LZ-990
测定对象磁性金属上非磁性涂镀层非磁性金属上绝缘层
测定范围0~3000um或0~120.0mils
测定精度<50um±1um ,  >50um±2%
分 辨 率<100um  0.1um ,  >100um  1um
功能统计中、英、日、韩四国语言菜单,自动关机,背光设定 ,自动识别。
可针对不同产品保留测量通道,数据可存储,可输出至电脑,可分批统计大值、小值、平均值、标准差。 配有专y
数据处理软件
计量单位公制、英制可自由切换
显示方式LCD液晶屏
操作面板密封防水按键
随机附件基体/校正标准片/电池/腕带/说明书
电    源DV6V 5#碱性电池×4个
体    积75mm(W)×100(mmD)×21mm(H)
重    量250g

 

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