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QuaNix4200P分体式涂层测厚仪 -德国尼克斯
简要描述:

QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)更方便用户在台阶、狭小、拐角及凹槽等复杂区域测量,QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)零位稳定,无需校准,温度补偿,红宝石探头,*的直流采样技术

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-06-22
  • 访  问  量:1903

详细介绍

QuaNix4200P分体式涂层测厚仪 

QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)更方便用户在台阶、狭小、拐角及凹槽等复杂区域测量,QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)零位稳定,无需校准,温度补偿,红宝石探头,*的直流采样技术。

QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)适合测量钢、铁等铁磁性(Fe)金属基体上的非磁性涂镀层的厚度,如油漆层、各种防腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉等
QuaNix4200P分体式涂层测厚仪技术参数:

 

QuaNix4200P
测量范围
QNIX4200P(分体型):Fe:0-3000um;NFe:0-3000um
QNIX4200P5(分体型):Fe:0-5000um;NFe:0-5000um
 
显示精度
0.1um
精度
0-50um:≤±1um
50-1000um:≤±1.5%读数
1000-3000um≤±3%读数
zui小接触面
10×10mm/QNix4500
zui小曲率半径
凸面:3mm;凹面:25mm
zui小基体厚度
Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
温度补偿范围
0-60℃
显示
LCD液晶(带背光)
探头
红宝石固定式
电源
2×1.5V干电池
尺寸
100×60×27mm
重量
110g

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