更新时间:2024-06-22
仪器型号:
QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)更方便用户在台阶、狭小、拐角及凹槽等复杂区域测量,QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)零位稳定,无需校准,温度补偿,红宝石探头,*的直流采样技术
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QuaNix4200P分体式涂层测厚仪
QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)更方便用户在台阶、狭小、拐角及凹槽等复杂区域测量,QuaNix4200P涂层测厚仪(分体式)零位稳定,无需校准,温度补偿,红宝石探头,*的直流采样技术。
QuaNix4200P | |
测量范围 | QNIX4200P(分体型):Fe:0-3000um;NFe:0-3000um |
QNIX4200P5(分体型):Fe:0-5000um;NFe:0-5000um | |
显示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um |
50-1000um:≤±1.5%读数 | |
1000-3000um≤±3%读数 | |
zui小接触面 | 10×10mm/QNix4500 |
zui小曲率半径 | 凸面:3mm;凹面:25mm |
zui小基体厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
温度补偿范围 | 0-60℃ |
显示 | LCD液晶(带背光) |
探头 | 红宝石固定式 |
电源 | 2×1.5V干电池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |