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涂层测厚仪
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菲尼克斯phynix Surfix S、Surfix basic S膜厚仪
Surfix basic S可换探头统计型测厚仪 膜厚计品牌:菲尼克斯 型号:basic S 产地:德国1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层2.分辨率0.1μm3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm4.探头需另选购
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