• 2021

  7-20
  ED400型涡流测厚仪测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度

  ED400型涡流测厚仪ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型，仪器性能显著提高。仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面...

• 2021

  7-20
  SF72露点变送器工业干燥机应用中测量-50至+10°

  SF72露点变送器、英国Michell密析尔产品介绍；SF72露点变送器是一种紧凑型传感器，设计在工业干燥机应用中测量-50至+10°Cdp的点（露点量程-80~+20℃可选），其中控制过程中的响应速度、可靠性和长期数据稳定性十分关键。变送...

• 2021

  7-16
  SUTO S215露点传感器设计紧凑小巧-便于安装使用

  SUTOS215露点传感器SUTOS215露点传感器采用高级铝合金，带柔和抛光效果。螺纹接口采用1.4301(SUS304)不锈钢，经久耐用。顶盖采用铝制材料，与主体同等品质。显示屏（可选）盖由坚固的聚碳酸酯和ABS加固制成，可经受严苛环境...

• 2021

  7-16
  希尔思SUTO S211露点传感器采用高级铝合金，带柔和抛光效果

  希尔思SUTOS211露点传感器超快响应时间—确保安全可靠的测量希尔思SUTOS211露点传感器采用高级铝合金，带柔和抛光效果。螺纹接口采用1.4301(SUS304)不锈钢，经久耐用。顶盖采用铝制材料，与主体同等品质。显示屏（可选）盖由坚...

• 2021

  7-16
  希尔思SUTO S220露点传感器采用QCM和薄膜聚合物双传感器技术

  希尔思SUTOS220露点传感器超快响应时间—确保安全可靠的测量*的传感器元件QCM传感器是希尔思多年高科技研发的成果。该传感器专门设计用于其它类型传感器无法测量的低露点应用。S220采用QCM和薄膜聚合物双传感器技术，可按需在两个传感器元...

• 2021

  7-16
  日本 L2001镊子型探头适用于芯片零部件的测量

  日本L2001镊子型探头日本L2001镊型探头是在本公司的LCR测试仪，阻抗分析仪，C测试仪的测量端口上连接使用的针形夹探头。适用于芯片零部件的测量。由0603尺寸而来的可抓取小型芯片零件的新形状，对于测量精度的影响和可使用的测试仪与所连接...